IEC 62415:2010-半导体器件 - 恒流电迁移测试-国家数字标准馆

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Semiconductor devices - Constant current electromigration test 半导体器件 - 恒流电迁移测试

发布日期： 2010-05-19

IEC 62415:2010描述了通过串和触点对金属线进行常规恒流电迁移测试的方法。

IEC 62415:2010 describes a method for conventional constant current electromigration testing of metal lines, via string and contacts.

分类信息

发布单位或类别：国际组织-国际电工委员会

ICS分类： 31.080电子学 - 半导体分立器件

关联关系

研制信息

归口单位： TC 47

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