BS 10/30199193 DC-BS ISO 13084 表面化学分析二次离子质谱法飞行时间二次离子质谱仪质量刻度的校准-国家数字标准馆

现行 BS 10/30199193 DC

到馆提醒

收藏跟踪

购买正版

BS ISO 13084. Surface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Calibration of the mass scale for a time of flight secondary ion mass spectrometer BS ISO 13084 表面化学分析二次离子质谱法飞行时间二次离子质谱仪质量刻度的校准

发布日期： 2010-04-22

购买本文件时可获得的所有当前修订均包含在购买本文件中。

All current amendments available at time of purchase are included with the purchase of this document.

分类信息

发布单位或类别：英国-英国标准学会

关联关系

研制信息

相似标准/计划/法规

现行

BS ISO 13084-2018

Surface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer
表面化学分析二次离子质谱法飞行时间二次离子质谱仪质量刻度的校准

2018-11-16

现行

ISO 13084-2018

Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer
表面化学分析 - 二次离子质谱法 - 用于飞行时间二次离子质谱仪的质谱的校准

2018-11-15

现行

GB/T 40129-2021

表面化学分析二次离子质谱飞行时间二次离子质谱仪质量标校准
Surface chemical analysis—Secondary ion mass spectrometry—Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer

2021-05-21

现行

BS 07/30138812 DC

BS ISO 23830. Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry
BS ISO 23830 表面化学分析二次离子质谱法静态二次离子质谱中相对强度标度的重复性和稳定性

2007-04-24

现行

BS 08/30138809 DC

BS ISO 23812. Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Method for depth calibration for silicon using multiple delta-layer reference materials
BS ISO 23812 表面化学分析二次离子质谱法用多δ层标准物质对硅进行深度校准的方法

2008-02-19