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KS C IEC 62321-3-1-2014(2024)
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전기전자 제품에서 특정 물질의 정량 — 제3-1부: X선 형광 분석법에 의한 납, 수은, 카드뮴, 총 크로뮴 및 총 브로민의 스크리닝
电工产品中某些物质的测定第3-1部分:筛选X射线荧光光谱法测定铅、汞、镉、总铬和总溴
该标准使用X射线荧光(XRF)分析法对电子产品中发现的均质材料中的铅(Pb)、汞(Hg)、镉(Cd)、总铬、总溴(Br)五种物质进行筛查分析。
이 표준은 X선 형광(XRF) 분석법을 사용하여 전기전자 제품에서 발견되는 균질 재료 중 특히 납(Pb), 수은(Hg), 카드뮴(Cd), 총 크로뮴, 총 브로민(Br)의 다섯 가지 물질에 대한 스크리닝 분석에 대해 설명한다.
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