现行

BS ISO 10810-2019

Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Guidelines for analysis
表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南

2019-08-23

现行

GB/T 30704-2014

表面化学分析　X射线光电子能谱　分析指南
Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Guidelines for analysis

2014-06-09

现行

ISO 10810-2019

Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Guidelines for analysis
表面化学分析 - X射线光电子能谱分析指南

2019-08-22

现行

AS ISO 15470-2006

Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Description of selected instrumental performance parameters
表面化学分析.X射线光电子能谱.选定仪器性能参数的描述

2006-10-20

现行

BS ISO 15470-2017

Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Description of selected instrumental performance parameters
表面化学分析 X射线光电子能谱 所选仪器性能参数的说明

2017-03-31

现行

KS D ISO 15470(2020 Confirm)

표면 화학 분석－X선 광전자 분광법－선택한 기기의 성능 파라미터 설명
表面化学分析X射线光电子能谱仪部分性能参数说明

2005-12-28

现行

ISO 15470-2017

Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Description of selected instrumental performance parameters
表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 所选仪器性能参数的描述

2017-03-02

现行

GB/T 28892-2024

表面化学分析 X射线光电子能谱 选择仪器性能参数的表述
Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Description of selected instrumental performance parameters

2024-03-15

现行

ISO/TR 18392-2005

Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Procedures for determining backgrounds
表面化学分析——X射线光电子能谱；确定背景的程序

2005-11-17

现行

GB/Z 32490-2016

表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序
Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Procedures for determining backgrounds

2016-02-24

现行

BS ISO 16129-2018

Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Procedures for assessing the day-to-day performance of an X-ray photoelectron spectrometer
表面化学分析 X射线光电子能谱 X射线光电子能谱仪日常性能评估程序

2018-11-19

现行

ISO 16129-2018

Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Procedures for assessing the day-to-day performance of an X-ray photoelectron spectrometer
表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 评估X射线光电子能谱仪日常性能的方法

2018-11-15

现行

BS ISO 13424-2013

Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Reporting of results of thin-film analysis
表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告

2013-10-31

现行

ISO 13424-2013

Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Reporting of results of thin-film analysis
表面化学分析——X射线光电子能谱；薄膜分析结果的报告

2013-09-23

现行

GB/T 36401-2018

表面化学分析　X射线光电子能谱　薄膜分析结果的报告
Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Reporting of results of thin-film analysis

2018-06-07

现行

AS ISO 24237-2006

Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Repeatability and constancy of intensity scale
表面化学分析.X射线光电子能谱.强度标度的重复性和稳定性

2006-10-20

现行

BS ISO 14701-2018

Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness
表面化学分析 X射线光电子能谱 氧化硅厚度的测量

2018-11-05

现行

BS ISO 24237-2005

Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Repeatability and constancy of intensity scale
表面化学分析 X射线光电子能谱 强度标度的重复性和恒常性

2005-09-11

现行

BS ISO 16243-2011

Surface chemical analysis. Recording and reporting data in X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
表面化学分析 X射线光电子能谱（XPS）中的数据记录和报告

2011-12-31

现行

ISO 14701-2018

Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Measurement of silicon oxide thickness
表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 氧化硅厚度的测量

2018-10-31