YS/T 1164-2016-硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定　电感耦合等离子体发射光谱法-国家数字标准馆

现行 YS/T 1164-2016

到馆阅读

收藏跟踪

购买正版

选择购买版本本服务由中国标准服务网提供

电子版

中文(简体)/电子版加密PDF格式/约1分钟可下载/有水印/要装插件FileOpen/电脑需联网/限制累计3台电脑共打印5次

¥ 21

纸质版

中文(简体)/纸质版/约1个工作日发快递/无授权单位水印

¥ 16

前往中国标准服务网获取更多购买信息

硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定　电感耦合等离子体发射光谱法 Test method for the content of impurities in high purity quartz used for silicon material—Inductively coupled plasma atomic emission spectrometry method

发布日期： 2016-07-11

实施日期： 2017-01-01

本标准规定了多晶硅用高纯石英制品中铝、钙、钾、钠、铜、镁、磷、砷、锌、镍、硼含量的测定方法

分类信息

发布单位或类别：中国-行业标准-有色金属

CCS分类： Q35建材 - 陶瓷、玻璃 - 石英玻璃

ICS分类： 81.040玻璃和陶瓷工业 - 玻璃

关联关系

研制信息

归口单位：全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)

起草单位：亚洲硅业(青海)有限公司、昆明冶研新材料股份有限公司、洛阳中硅高科技有限公司、新特能源股份有限公司

起草人：王体虎、魏东亮、蔡延国、宗冰、季静佳、陈英、张云晖、张园园、邱艳梅

相似标准/计划/法规

现行

SJ/T 3228.2-2016

电子产品用高纯石英砂第2部分：分析方法通则
High purity arenaceous quartz for used in electronics part 2:General specification for testing methods

2016-01-15