该标准根据KS X 6503（ISO/IEC7810）中给出的定义定义，定义了ID卡特性的测试方法。各试验方法参照一个或以上基本标准前后。然后可以将其作为定义KS X 6503（ISO/IEC7810）或一个或多个ID卡应用所使用的信息存储技术的补充标准。备注1可接受性指南不是构成该标准的一部分，而是在上面提到的标准中提供的。备注2本标准中所述的试验方法将分开执行。提供的卡不要求连续通过所有考试。该标准记录了PCD（接近式卡终端）和PICC（接近式卡）之间的双向通信和将提供电力的字段（磁场）的特性。该标准与ISO/IEC14443的其他部共同使用。在该标准中，不仅没有写明耦合场的产生方法，也没有写明根据电磁辐射的方法和根据国家可能变化的常用规则的方法。

이 표준은 KS X 6503(ISO/IEC 7810)에서 주어진 정의에 따라 ID 카드의 특성에 대한 시험 방법을 정의 한다. 각 시험 방법은 하나 또는 그 이상의 기본 표준에 전후 참조된다. 그리고 그것을 KS X 6503 (ISO/IEC 7810) 또는 하나 이상의 ID 카드 응용에 이용된 정보 저장 기술을 정의하는 보충적인 표준이 될 수 있다. 비고 1 수용성에 대한 지침서는 이 표준의 일부를 구성하는 것이 아니라 위에서 언급된 표준에서 제공된 것이 다. 비고 2 이 표준에서 서술된 시험 방법은 분리하여 수행될 방침이었다. 제공된 카드는 연속적인 모든 시험을 통 과하는 것을 요구하지는 않는다. 이 표준은 PCD(근접식 카드 단말기)와 PICC(근접식 카드) 간의 양 방향 통신과 전력이 공급될 필드 (자기장)의 특성을 명기한다. 이 표준은 ISO/IEC 14443의 다른 부들과 공동으로 사용된다. 이 표준에서는 결합 필드의 발생 방법뿐 아니라 전자 복사에 따른 방법과 나라에 따라 변할 수 있는 상 용되는 규칙에 의한 방법은 명기하지 않는다.