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氢氧化铝快速测定 X射线荧光光谱分析(压片)法测定元素含量
发布日期: 2022-07-15
实施日期: 2022-07-31
主要技术内容:本文件规定了X射线荧光光谱分析(压片)法测定氢氧化铝中铝、钠、硅、铁、钾(分别以Al、Na、SiO2、Fe2O3、K2O表示)等元素的方法。本文件适用于氢氧化铝生产、加工、使用等下游企业
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