이 표준은 표면에서 원소 확인을 위한 일반적인 분석에 사용될 수 있도록 3 eV의 불확도로 오제 전자 분광기의 운동 에너지 눈금을 교정하는 방법에 대해 명기한다. 추가로, 교정 일정을 확립하는 방법에 대해서도 명기한다. 이 표준은 직접형 또는 미분형으로 사용된 장비에 적용할 수 있는데, 이때의 분해능은 0.5 % 이하이고, 사용될 경우 미분형에 대한 변조 진폭은 2 eV의 봉우리-대-봉우리 값이 된다. 이 표준은 4 keV 혹은 그 이상의 빔 에너지로 작동되는 전자 총과 시료 세정 과정을 위한이온 총 혹은 다른 방법을 사용하는 분광계에 적용할 수 있다.