KS D ISO 3497-2002(2017)-金属涂层 - 涂层厚度的测量 - X射线光谱仪的方法-国家数字标准馆

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도금두께 시험방법-X선 분광광도법 金属涂层 - 涂层厚度的测量 - X射线光谱仪的方法

发布日期： 2002-07-06

1.1该规格规定了使用X射线分光光度法测量镀层厚度的方法。1.2测量方法决定每单位面积的质量。利用镀层材料的密度，可以将测量结果表示为镀层厚度的线性函数。1.3测定方法可以同时测定三层镀液，也可以同时测定三元素成分的层厚和组成。1.4镀层材料的实测范围由分析的特性荧光X射线的能量和允许测量不确定度决定。然后，这些范围根据使用设备或动作程序的不同而有所不同。

1.1 이 규격은 X선 분광 광도법을 사용하여 도금 두께를 측정하는 방법을 규정한다. 1.2 측정 방법은 단위 면적당 질량을 결정한다. 도금 재료의 밀도를 이용하여 측정 결과를 도금 두께의 선형 함수로 표시할 수 있다. 1.3 측정 방법은 3층 도금의 동시 측정이나, 3원소 성분으로 된 층 두께와 조성을 동시에 측정할 수 있 다. 1.4 도금 재료의 실측 범위는 분석된 특성 형광 X선의 에너지와 허용 측정 불확도에 의해 결정된다. 그 리고 이런 범위는 사용 장비나 동작 절차에 따라 다를 수 있다.

分类信息

发布单位或类别：韩国-韩国标准

ICS分类： 25.220.40表面处理和镀涂 - 金属镀层

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