GB/T 17473.7-1998-厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法　可焊性、耐焊性试验-国家数字标准馆

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厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法　可焊性、耐焊性试验 Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics—Test of solderability and solderleaching resistance

发布日期： 1998-08-19

实施日期： 1999-03-01

废止日期： 2008-09-01

分类信息

发布单位或类别：中国-国家标准

CCS分类： H23冶金 - 金属理化性能试验方法 - 金属工艺性能试验方法

ICS分类： 77.040.01金属材料试验 - 金属材料试验综合

关联关系

研制信息

归口单位：中国有色金属工业总公司标准计量研究所

起草单位：昆明贵金属研究所

起草人：金勿毁、陈一

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