现行

ISO/IEC 10373-3-2018

Identification cards - Test methods - Part 3: Integrated circuit cards with contacts and related interface devices
识别卡 - 测试方法第3部分:带触点和相关接口设备的集成电路卡

2018-08-16

现行

GOST R ISO/IEC 10373-3-2011

Карты идентификационные. Методы испытаний. Часть 3. Карты на интегральных схемах с контактами и связанные с ними устройства сопряжения
身份证测试方法 具有触点和相关接口设备的集成电路卡

现行

ISO/IEC 10373-3-2018

Identification cards — Test methods — Part 3: Integrated circuit cards with contacts and related interface devices
识别卡 - 测试方法第3部分:带触点和相关接口设备的集成电路卡

2018-08-16

现行

SJ/T 11232-2001

集成电路卡通用规范 第6部分：安全规范
General specification for integrated circuit cards Part 6:Security specification

2001-04-13

现行

KS X 6922-3(2018 Confirm)

지불 시스템을 위한 IC 카드 규격－제3부：애플리케이션 규격
支付系统用集成电路卡规范第3部分:应用规范

2008-12-19

现行

KS X 6922-3(2023 Confirm)

지불 시스템을 위한 IC 카드 규격－제3부：애플리케이션 규격
支付系统集成电路卡规范第3部分:应用规范

2008-12-19

现行

KS X ISO/IEC 10373-3(2012 Confirm)

ID 카드－시험방법－제3부：접촉식 IC 카드와 관련 인터페이스 장치
识别卡试验方法第3部分:带触点的集成电路卡及相关接口装置

2007-07-09

现行

KS X ISO/IEC 10373-3

ID 카드 — 시험방법 — 제3부：접촉식 IC 카드 및 관련 인터페이스 장치
识别卡.试验方法.第3部分:带触点和相关接口装置的集成电路卡

2022-11-02

现行

GB/T 17554.3-2006

识别卡 测试方法 第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备
Identification cards - Test methods Part 3: Integrated circuit(s) cards with contacts and related interface devices

2006-03-14

现行

JR/T 0025.1-2018

中国金融集成电路（IC）卡规范 第1部分：总则
China financial integrated circuit card specifications-Part 1：General principles

2018-11-28

现行

SJ/T 11230-2001

集成电路卡通用规范 第4部分：接口设备基本应用编程接口规范
General specification for integrated circuit cards Part 4:Interface device fundamental API specification

2001-04-13

现行

JR/T 0025.3-2018

中国金融集成电路（IC）卡规范 第3部分：与应用无关的IC卡与终端接口规范
China financial integrated circuit card specifications-Part 3：Specification on application independent ICC to terminalinterface requirements

2018-11-28

现行

MIL MIL-C-50790A Amendment 1

CIRCUIT CARD ASSEMBLIES, TEST SET, AN/MWM-3 GENERAL SPECIFICATION FOR (NO S/S DOCUMENT) (SUPERSEDING MIL-C-50790)
电路卡组件 试验装置 AN/MWM-3通用规范（无S/S文件）（代替MIL-C-50790）

1993-01-04

现行

MIL MIL-C-50790A Notice 1-Cancellation

CIRCUIT CARD ASSEMBLIES, TEST SET, AN/MWM-3 GENERAL SPECIFICATION FOR (NO S/S DOCUMENT) (SUPERSEDING MIL-C-50790)
电路卡组件 试验装置 AN/MWM-3通用规范（无S/S文件）（代替MIL-C-50790）

1997-04-18

现行

MIL MIL-C-50790A

CIRCUIT CARD ASSEMBLIES, TEST SET, AN/MWM-3 GENERAL SPECIFICATION FOR (NO S/S DOCUMENT) (SUPERSEDING MIL-C-50790)
电路卡组件 测试装置 AN/MWM-3通用规范（无S/S文件）（代替MIL-C-50790）

1991-05-31

现行

ETSI TS 101 203-3

Identification card systems; Telecommunications IC cards and terminals; Test methods and conformance testing for EN 726-3; Part 3: Abstract Test Suite (ATS) and Implementation eXtra Information for Testing (IXIT) proforma specification
身份证系统；电信IC卡和终端；EN 726-3的测试方法和一致性测试；第3部分:抽象测试套件（ATS）和测试实施额外信息（IXIT）形式规范

1997-07-01

现行

KS C IEC 60603-12(2019 Confirm)

인쇄 기판에 사용하는 3 MHz 미만 주파수용 커넥터 — 제12부: 집적 회로에 사용하도록 설계된 소켓의 치수, 일반 요구사항의 시험에 대한 개별 규격
用于频率低于3 Mhz的连接器用于印刷电路板 - 第12部分:尺寸详细规格 适用于集成电路的一系列插座的一般要求和测试

2014-12-09

现行

GB/T 15157.12-2011

频率低于3 MHz的印制板连接器　第12部分：集成电路插座的尺寸、一般要求和试验方法详细规范
Connectors for frequencies below 3 MHz for use with printed boards—Part 12:Detail specification for dimensions,general requirements and tests for a range of sockets designed for use with integrated circuits

2011-12-30

现行

KS C IEC 60603-12(2024 Confirm)

인쇄 기판에 사용하는 3 MHz 미만 주파수용 커넥터 — 제12부: 집적 회로에 사용하도록 설계된 소켓의 치수, 일반 요구사항의 시험에 대한 개별 규격
印制板用频率低于3MHz的连接器第12部分:集成电路用插座尺寸、一般要求和试验的详细规范

2014-12-09

现行

IEC 60603-12-1992

Connectors for frequencies below 3 MHz for use with printed boards - Part 12: Detail specification for dimensions, general requirements and tests for a range of sockets designed for use with integrated circuits
用于频率低于3 Mhz的连接器用于印刷电路板 - 第12部分:尺寸详细规格 适用于集成电路的一系列插座的一般要求和测试

1992-06-25