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废止 T/CGWSTC 001-2022
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陶瓷原料中多种成分的测定 X 射线荧光光谱法(粉末压片)
发布日期: 2022-05-10
实施日期: 2022-05-22
主要技术内容:本文件规定了测定陶瓷原料中多种成分X射线荧光光谱法的原理、 试剂和材料、仪器设备、试样制备、分析步骤、结果计算、精密度及 实验报告
分类信息
发布单位或类别: 中国-团体标准
ICS分类: 81.060.01陶瓷 - 陶瓷综合
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