이 기술 보고서는 유도 결합 플라스마 분광 분석법에 의한 강의 규소 함유량 정량 방법을 규정한다. 이 방법은 질량분율 0.02 % ~ 질량분율 5 %까지의 규소 함유량에 대하여 적용할 수 있다. 이 방법은 시료에 대하여 검정 용액을 매우 가깝게 매트릭스 매칭시키는 그리고 분석될 시료의 대략적인 실리콘 농도 부근의 함유량의 근접 브래키팅을 기반으로하는 검정을 사용한다. 따라서 시료 중 모든 원소의 농도는 대략적으로 알려져 있어야 한다. 농도가 알려지지 않은 시료는 반정량 방법(semi quantitative method)으로 분석되어야 한다. 이 절차의 장점은 매트릭스로부터의 가능한 모든 간섭이 자동적으로 보상되어 정확도가 높아진다는 것이다. 이런 분광 간섭은 매우 중요한데 고합금 매트릭스에서는 심각할 수 있다. 따라서 사용되는 분광기는 선택된 분석선에 대하여 방법에 명시된 성능 기준을 충족하는 것이 필수적이다.