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GAGG晶体及晶片阵列性能测量方法
发布日期: 2022-09-29
实施日期: 2022-09-29
范围:本文件适用于GAGG晶体及晶片阵列性能测量; 主要技术内容:本文件规定了掺铈钆铝镓石榴石(Cerium-doped Gadolinium Aluminum Gallium Garnet,Gd3Al2Ga3O12,英文缩写GAGG)晶体及晶片阵列外观及几何特性(外观、尺寸、翘曲度、总厚度偏差、表面粗糙度、垂直度、平行度等)的检测方法,以及辐射特性(光输出、相对能量转换效率、闪烁光衰减长度、发射光谱、闪烁余辉时间、晶体阵列的心角比等)的测量方法
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