KS C IEC 60749-17-2021-半导体器件.机械和气候试验方法.第17部分:中子辐照-国家数字标准馆

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반도체 소자 — 기계 및 기후 시험방법 — 제17부：중성자 방사 半导体器件.机械和气候试验方法.第17部分:中子辐照

发布日期： 2021-12-29

中子辐射试验是为了了解在中子环境中因劣化而产生的半导体元件的耐性（磁化率）而进行的。该试验适用于集成电路和个别半导体元件。该试验是为军事及航天航空相关产品而设计的。这个考试是破坏性的。

중성자 방사 시험은 중성자 환경에서 열화에 따른 반도체소자의 내성(susceptibility)를 알아보기 위해 수행한다. 이 시험은 집적회로와 개별 반도체소자에 적용 가능하다. 이 시험은 군사 및우주 항공 관련 제품을 위해 고안된 것이다. 이 시험은 파괴적이다.

分类信息

发布单位或类别：韩国-韩国标准

ICS分类： 31.080.01半导体分立器件 - 半导体器分立件综合

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