20242754-T-339-半导体器件通用鉴定指南第2部分：可靠性鉴定中任务剖面的概念-国家数字标准馆

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半导体器件通用鉴定指南第2部分：可靠性鉴定中任务剖面的概念 Semiconductor devices—General qualification guidelines—Part 2:Concept of mission profile in reliability qualification

下达日期： 2024-08-23

分类信息

发布单位或类别：中国-国家标准计划

ICS分类： 31.080.01半导体分立器件 - 半导体器分立件综合

关联关系

研制信息

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

起草单位：之江实验室、中国电子科技集团公司第十三研究所、上海燧原科技有限公司、威凯检测技术有限公司、中科计算技术创新研究院、杭州傲芯科技有限公司、深圳市恒运昌真空技术有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、西安电力电子技术研究所有限公司

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文件草案.半导体器件.可靠性鉴定计划指南.第2部分:任务剖面的概念（IEC 47/2718/CDV:2021）；德语和英语版本prEN IEC 63287-2:2021

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