JB/T 12962.3-2016-能量色散X射线荧光光谱仪第3部分：镀层厚度分析仪-国家数字标准馆

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能量色散X射线荧光光谱仪第3部分：镀层厚度分析仪 Energy dispersive X-ray fluorescence spectrometer-Part 3: Plating thickness analyzer

发布日期： 2016-10-22

实施日期： 2017-04-01

JB/T 12962的本部分规定了能量色散X射线荧光镀层厚度分析仪的术语和定义、测量范围、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。
本部分适用于采用X射线管为激发源，对镀层厚度进行无损测试的能量色散X射线荧光光谱仪(以下简称仪器)，采用其他激发源的仪器可参照使用

分类信息

发布单位或类别：中国-行业标准-机械

CCS分类： N53仪器、仪表 - 物质成份分析仪器与环境监测仪器 - 电化学、热化学、光学式分析仪器

ICS分类： 71.040.10分析化学 - 化学实验室、实验室设备

关联关系

研制信息

归口单位：全国工业过程测量控制和自动化标准化技术委员会

起草单位：江苏天瑞仪器股份有限公司、南通菲希尔测试仪器有限公司、中国科学院上海硅酸盐研究所、牛津仪器(上海〉有限公司

起草人：吴敏、周晓辉、卓尚军、徐家骥、吴斌

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