现行

MIL MIL-T-81541

TEST SET, ELECTRONIC CIRCUIT PLUG-IN UNIT AN/ASM-152
测试装置 电子电路插件单元AN/ASM-152

1967-06-27

现行

MIL MIL-T-28815

TEST SET, ELECTRONIC CIRCUIT PLUG-IN UNIT (NO S/S DOCUMENT)
测试装置 电子电路插件（无S/S文件）

1975-03-18

现行

MIL MIL-S-83505/2B Notice 4-Validation 4

SOCKET, (LEAD, ELECTRONIC COMPONENTS) (TYPE II, PRINTED CIRCUIT)
插座 （导线 电子元件）（II型 印刷电路）

2018-03-06

现行

MIL MIL-S-83505/2B Notice 3-Validation

Socket, (Lead, Electronic Components) (Type II, Printed Circuit)
插座 （导线 电子元件）（II型 印刷电路）

2011-08-09

现行

MIL MIL-T-63264 Amendment 2

TEST SET, ELECTRONIC SYSTEMS: M92
电子系统测试装置:M92

1989-06-16

现行

MIL MIL-T-63264 Notice 1-Cancellation

TEST SET, ELECTRONIC SYSTEMS: M92
电子系统测试套件:M92

1996-06-03

现行

MIL MIL-T-63264 Notice 2-Reactivation

TEST SET, ELECTRONIC SYSTEMS: M92
电子系统测试套件:M92

1996-12-02

现行

MIL MIL-T-70431 Notice 2-Inactivation

TEST SET, ELECTRONIC SYSTEM: M137
测试套件 电子系统:M137

1996-02-14

现行

MIL MIL-T-70431 Notice 1-Validation

TEST SET, ELECTRONIC SYSTEM: M137
测试套件 电子系统:M137

1991-09-12

现行

MIL MIL-T-70431

TEST SET, ELECTRONIC SYSTEM: M137
测试装置 电子系统:M137

1982-12-15

现行

MIL MIL-T-63264

TEST SET, ELECTRONIC SYSTEMS: M92
测试装置 电子系统:M92

1978-05-03

现行

MIL MIL-A-81917 Notice 1-Inactivation

AIRCRAFT FIRING CIRCUIT TEST SET AN/AWM-54
飞机点火电路测试仪AN/AWM-54

1995-10-31

现行

MIL MIL-A-81917

AIRCRAFT FIRING CIRCUIT TEST SET AN/AWM-54
飞机点火回路试验装置AN/AWM-54

1973-03-07

现行

SJ/T 10076-1991

半导体集成电路CJ710型电压比较器
Detail specification for electronic components--Semiconductor integrated circuits--CJ710 Voltage comparator

1991-04-08

现行

SJ/T 10155-1991

混合厚膜集成电路HM0006 伴音耦合电路详细规范
Detail specification for electronic components--Hybrid thick film integrated circuits,Audio coupling circuits,Type HM0006

1991-04-02

现行

DIN 8964-1

Circuit components for refrigerating systems - Part 1: Testing
制冷系统用电路元件.第1部分:试验

1996-03-01

现行

MIL MIL-T-48236 Amendment 1

TEST SET, ELECTRICAL CIRCUIT, M40E1 PARTS FOR, ASSEMBLING AND PACKING
测试组 电路 M40E1组件和包装件

1974-05-10

现行

MIL MIL-T-48236 Notice 1-Validation

TEST SET, ELECTRICAL CIRCUIT, M40E1 PARTS FOR, ASSEMBLING AND PACKING
测试装置、电路、M40E1零件、组装和包装

1986-04-09

现行

MIL MIL-T-48236

TEST SET, ELECTRICAL CIRCUIT, M40E1 PARTS FOR, ASSEMBLING AND PACKING
测试装置、电路、M40E1零件、组装和包装

1973-08-06

现行

BS EN 190000-1996

Harmonized system of quality assessment for electronic components. Generic specification: monolithic integrated circuits
电子元件质量评定协调体系 总规范:单片集成电路

1996-03-15