首页 馆藏资源 舆情信息 标准服务 科研活动 关于我们
现行 GB/T 42896-2023
到馆阅读
收藏跟踪
购买正版
微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS纳尺度结构冲击试验方法 Micro-electromechanical systems(MEMS) technology—Impact test method for nanostructures of silicon based MEMS
发布日期: 2023-08-06
实施日期: 2023-12-01
分类信息
关联关系
研制信息
相似标准/计划/法规
现行
GB/T 38341-2019
微机电系统(MEMS)技术 MEMS器件的可靠性综合环境试验方法
Micro-electromechanical system technology—The reliability test methods of MEMS in integrated environments
2019-12-31
现行
GB/T 42895-2023
微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS微结构弯曲强度试验方法
Micro-electromechanical systems(MEMS)technology—Bending strength test method for microstructures of silicon based MEMS
2023-08-06
现行
GB/T 44842-2024
微机电系统(MEMS)技术 薄膜材料的弯曲试验方法
Micro-electromechanical systems (MEMS) technology—Bend testing methods of thin film materials
2024-10-26
现行
GB/T 42897-2023
微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS纳米厚度膜抗拉强度试验方法
Micro-electromechanical systems(MEMS) technology—Tensile strength test method for nano-scale membranes of silicon based MEMS
2023-08-06
现行
GB/T 38447-2020
微机电系统(MEMS)技术 MEMS结构共振疲劳试验方法
Micro-electromechanical system technology—Fatigue testing method of MEMS structure using resonant vibration
2020-03-06
现行
GB/T 34898-2017
微机电系统(MEMS)技术 MEMS谐振敏感元件非线性振动测试方法
Micro electromechanical system technology—Test method for the nonlinear vibration of the MEMS resonant sensitive element
2017-11-01
现行
GB/T 42158-2023
微机电系统(MEMS)技术 微沟槽和棱锥式针结构的描述和测量方法
Micro-electromechanical systems technology(MEMS) —Description and measurement methods for micro trench and pyramidal needle structures
2023-03-17
现行
GB/T 44514-2024
微机电系统(MEMS)技术 层状MEMS材料界面黏附能四点弯曲试验方法
Micro-electromechanical systems (MEMS) technology—Four-point bending test method for interfacial adhesion energy of layered MEMS materials
2024-09-29
现行
GB/T 34894-2017
微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构应变梯度测量方法
Micro-electromechanical system technology—Measuring method for strain gradient measurements of MEMS microstructures using an optical interferometer
2017-11-01
现行
GB/T 34893-2017
微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法
Micro-electromechanical system technology—Measuring method for in-plane length measurements of MEMS microstructures using an optical interferometer
2017-11-01
现行
GB/T 34900-2017
微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构残余应变测量方法
Micro-electromechanical system technology—Measuring method for residual strain measurements of MEMS microstructures using an optical interferometer
2017-11-01
现行
GB/T 38446-2020
微机电系统(MEMS)技术 带状薄膜抗拉性能的试验方法
Micro-electromechanical system technology—Test methods for tensile property measurement of strip thin films
2020-03-06