GB/T 14849.5-2014-工业硅化学分析方法第5部分：杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法-国家数字标准馆

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工业硅化学分析方法第5部分：杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法 Methods for chemical analysis of silicon metal―Part 5：Determination of impurity contents―X-ray fluorescence method

发布日期： 2014-12-05

实施日期： 2015-05-01

分类信息

发布单位或类别：中国-国家标准

CCS分类： H12冶金 - 金属化学分析方法 - 轻金属及其合金分析方法

ICS分类： 77.120.10有色金属 - 铝和铝合金

关联关系

研制信息

归口单位：全国有色金属标准化技术委员会

起草单位：昆明冶金研究院、中国铝业股份有限公司山东分公司、云南永昌硅业股份有限公司、中国铝业股份有限公司郑州研究院、通标标准技术服务有限公司、包头铝业有限公司、蓝星硅材料有限公司、昆明冶研新材料股份有限公司、云南出入境检验检疫局

起草人：刘英波、赵德平、杨海岸、周杰、杨毅

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