DIN EN 62415-半导体器件.恒流电迁移试验（IEC 62415-2010）；德文版EN 62415:2010-国家数字标准馆

现行 DIN EN 62415

到馆提醒

收藏跟踪

购买正版

Semiconductor devices - Constant current electromigration test (IEC 62415:2010); German version EN 62415:2010 半导体器件.恒流电迁移试验（IEC 62415-2010）；德文版EN 62415:2010

发布日期： 2010-12-01

分类信息

发布单位或类别：德国-德国标准化学会

关联关系

研制信息

相似标准/计划/法规

现行

BS EN 62415-2010

Semiconductor devices. Constant current electromigration test
半导体器件恒流电迁移试验

2010-07-31

现行

IEC 62415-2010

Semiconductor devices - Constant current electromigration test
半导体器件 - 恒流电迁移测试

2010-05-19

《国家标准化发展纲要》提出建设国家数字标准馆，推动标准化工作向数字化、网络化、智能化转型。中国标准化研究院正在全力推进国家数字标准馆建设，力争在2026年底建成“一个中心”和“一个平台”，即全球领先的标准数据资源中心，涵盖标准全生命周期的数字化、网络化、智能化研究与服务平台。