现行

BS ISO 13084-2018

Surface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer
表面化学分析 二次离子质谱法 飞行时间二次离子质谱仪质量刻度的校准

2018-11-16

现行

ISO 13084-2018

Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer
表面化学分析 - 二次离子质谱法 - 用于飞行时间二次离子质谱仪的质谱的校准

2018-11-15

现行

GB/T 40129-2021

表面化学分析 二次离子质谱 飞行时间二次离子质谱仪质量标校准
Surface chemical analysis—Secondary ion mass spectrometry—Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer

2021-05-21

现行

BS ISO 23830-2008

Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry
表面化学分析 二次离子质谱法 静态二次离子质谱中相对强度标度的重复性和稳定性

2008-12-31

现行

GB/T 43663-2024

表面化学分析 二次离子质谱 静态二次离子质谱相对强度标的重复性和一致性
Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry

2024-03-15

现行

ISO 23830-2008

Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry
表面化学分析——二次离子质谱法——静态二次离子质谱中相对强度标度的重复性和稳定性

2008-11-05

现行

BS ISO 20411-2018

Surface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Correction method for saturated intensity in single ion counting dynamic secondary ion mass spectrometry
表面化学分析 二次离子质谱法 单离子计数动态二次离子质谱中饱和强度的校正方法

2018-03-14

现行

ISO 20411-2018

Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Correction method for saturated intensity in single ion counting dynamic secondary ion mass spectrometry
表面化学分析 - 二次离子质谱法 - 单离子计数动态二次离子质谱法中饱和强度的校正方法

2018-03-09

现行

AS ISO 22048-2006

Surface chemical analysis - Information format for static secondary-ion mass spectrometry
表面化学分析.静态二次离子质谱法的信息格式

2006-10-20

现行

KS D ISO 22048(2020 Confirm)

표면 화학 분석－정적 이차 이온 질량 분광 분석법의 정보 포맷
表面化学分析 - 静态二次离子质谱的信息格式

2005-12-28

现行

ISO 22048-2004

Surface chemical analysis — Information format for static secondary-ion mass spectrometry
表面化学分析——静态二次离子质谱信息格式

2004-08-25

现行

BS ISO 22048-2004

Surface chemical analysis. Information format for static secondary-ion mass spectrometry
表面化学分析 静态二次离子质谱信息格式

2005-03-31

现行

ISO/TS 22933-2022

Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Method for the measurement of mass resolution in SIMS
表面化学分析.二次离子质谱法.模拟离子质谱中质量分辨率的测量方法

2022-04-01

现行

BS 10/30199193 DC

BS ISO 13084. Surface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Calibration of the mass scale for a time of flight secondary ion mass spectrometer
BS ISO 13084 表面化学分析 二次离子质谱法 飞行时间二次离子质谱仪质量刻度的校准

2010-04-22

现行

BS 07/30138812 DC

BS ISO 23830. Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry
BS ISO 23830 表面化学分析 二次离子质谱法 静态二次离子质谱中相对强度标度的重复性和稳定性

2007-04-24

现行

BS ISO 18114-2021

Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
表面化学分析 二次离子质谱法 离子注入标准物质相对灵敏度因子的测定

2021-05-18

现行

KS D ISO 18114(2020 Confirm)

표면 화학 분석－이차 이온 질량 분광 분석법－이온 주입된 기준 물질로부터 상대 감도 인자의 결정
表面化学分析二次离子质谱法离子注入标准物质相对灵敏度因子的测定

2005-12-28

现行

ISO 18114-2021

Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
表面化学分析 - 二次离子质谱法 - 离子注入参考物质的相对敏感性因子的测定

2021-05-11

现行

GB/T 25186-2010

表面化学分析 二次离子质谱 - 由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子
Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials

2010-09-26

现行

BS ISO 17560-2014

Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Method for depth profiling of boron in silicon
表面化学分析 二次离子质谱法 硅中硼的深度剖面分析方法

2014-09-30