SJ 20233-1993-IMPACT-Ⅱ型半导体分立器件测试系统检定规程-国家数字标准馆

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IMPACT-Ⅱ型半导体分立器件测试系统检定规程 Verification regulation of model IMPACT-Ⅱ semiconductor discrete device test system

发布日期： 1993-02-09

实施日期： 1993-05-01

分类信息

发布单位或类别：中国-行业标准-电子

关联关系

研制信息

起草单位：机电部第五研究所

起草人：梁琼崇

相似标准/计划/法规

《国家标准化发展纲要》提出建设国家数字标准馆，推动标准化工作向数字化、网络化、智能化转型。中国标准化研究院正在全力推进国家数字标准馆建设，力争在2026年底建成“一个中心”和“一个平台”，即全球领先的标准数据资源中心，涵盖标准全生命周期的数字化、网络化、智能化研究与服务平台。