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作废 DB53/T 501-2013
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多晶硅用三氯氢硅杂质元素含量测定 电感耦合等离子体质谱法
发布日期: 2013-08-01
实施日期: 2013-10-01
本标准规定了电感耦合等离子体质谱法测定多晶硅用三氯氢硅中硼、铁、铝、钙、铜、铬、镍、锑、钴、锌、锡、钛、锰杂质元素含量的方法。本标准适用于改良西门子法生产多晶硅用三氯氢硅中硼、铁、铝、钙、铜、铬、镍、锑、钴、锌、锡、钛、锰杂质元素含量的测定
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