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现行 KS D ISO 18118-2005(2020)
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표면 화학 분석-오제 전자 분광법과 X선 광전자 분광법-균질 재료의 정량 분석을 위해 실험으로 결정된 상대 감도 인자의 사용 지침 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱均匀材料定量分析用实验测定的相对灵敏度因子的使用指南
发布日期: 2005-12-28
该规格使用奥杰(Auger)电子分光仪和X射线光电子分光仪,测量实验确定的相对灵敏度因子,为均质材料的定量分析提供使用指南。
이 규격은 오제(Auger) 전자 분광기와 X선 광전자 분광기를 사용하여, 균질 재료의 정량 분 석을 위해 실험으로 결정된 상대 감도 인자를 측정하고, 이를 사용하는 지침을 제공한다.
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