T/NXCL 015-2022-硅部件用柱状多晶硅-国家数字标准馆

现行 T/NXCL 015-2022

到馆提醒

收藏跟踪

购买正版

硅部件用柱状多晶硅

发布日期： 2022-12-02

实施日期： 2022-12-02

主要技术内容:本文件规定了硅部件用柱状多晶硅的术语和定义、技术要求、试验方法、检验规格、和标志、包装、运输、贮存等方面的内容。其中技术要求包括基本要求、原料、化学成分、物理性能、晶粒形态和夹杂物。试验方法包括化学成分分析方法、物理性能检验方法以及晶粒形态和夹杂物的检测方法。检验规则包括检查和验收、组批、检验项目、仲裁取样和制样、检验结果的判定

分类信息

发布单位或类别：中国-团体标准

ICS分类： 29.045电气工程 - 半导体材料

关联关系

研制信息

归口单位：宁夏材料研究学会

起草单位：宁夏盾源聚芯半导体科技股份有限公司、宁夏高创特能源科技有限公司、北方民族大学、宁夏中欣晶圆半导体科技有限公司、宁夏职业技术学院

起草人：李长苏、顾燕滨、盛旺、丁亚国、武文元、李玲玲、熊欢、吴彦飞、杨文平、刘建斌、杨少林、范占军、马江、杜朋轩、姜永庆、谢君彦

相似标准/计划/法规

多晶硅用硅粉
Silicon power for polycrystalline

T/CNIA 0014-2019

多晶硅生产用瓷环

多晶硅制备炉衬用银板材

T/CNIA 0013-2019

多晶硅生产用石墨制品

改良西门子法多晶硅用硅芯
Silicon core for polysilicon by improved siemens method

T/CEMIA 018-2019

光伏多晶硅用熔融石英陶瓷坩埚

GB/T 32652-2016

多晶硅铸锭石英坩埚用熔融石英料
Fused quartz used for quartz ceramic crucibles for casting polycrystalline silicon

太阳能多晶硅用熔融石英陶瓷坩埚

GB/T 29054-2019

太阳能电池用铸造多晶硅块
Casting multicrystalline silicon brick for photovoltaic solar cell

多晶硅生产用氮化硅陶瓷绝缘体
Si3N4 ceramic insulation components for polycrystalline silicon production

T/CNIA 0060-2020

多晶硅用氢气中磷化氢含量的测定气相色谱法

T/CNIA 0017-2019

多晶硅用氯硅烷中杂质含量的测定电感耦合等离子体质谱法

T/CNIA 0141-2022

多晶硅生产用氢气中金属杂质含量的测定电感耦合等离子体质谱法

GB/T 35309-2017

用区熔法和光谱分析法评价颗粒状多晶硅的规程
Practice for evaluation of granular polysilicon by melter-zoner and spectroscopies

GB/T 29057-2023

用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程
Practice for evaluation of polocrystalline silicon rods by float-zone crystal growth and spectroscopy

T/CNIA 0064-2020

多晶硅行业用无尘擦拭布中杂质含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法

《国家标准化发展纲要》提出建设国家数字标准馆，推动标准化工作向数字化、网络化、智能化转型。中国标准化研究院正在全力推进国家数字标准馆建设，力争在2026年底建成“一个中心”和“一个平台”，即全球领先的标准数据资源中心，涵盖标准全生命周期的数字化、网络化、智能化研究与服务平台。

专题数据库

标准管理系统

大数据分析系统

标准智能研制系统