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INTEGRATED CIRCUIT THERMAL MEASUREMENT METHOD - ELECTRICAL TEST METHOD (SINGLE SEMICONDUCTOR DEVICE) 集成电路热测量方法电气试验方法(单半导体器件)
发布日期: 1995-12-01
本试验方法的目的是定义一种标准电气试验方法(ETM),该方法可用于确定封装在某种形式电气封装中的单个集成电路设备的热特性。该方法将为比较同一电子封装中的不同设备或不同电子封装中的类似设备提供依据。
The purpose of this test method is to define a standard Electrical Test Method (ETM) that can be used to determine the thermal characteristics of single integrated circuit devices housed in some form of electrical package. This method will provide a basis for comparison of different devices housed in the same electronic package or similar devices housed in different electronic packages.
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