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Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Methods for elemental-mapping analysis using wavelength-dispersive spectroscopy 微束分析——电子探针微量分析——用波长色散光谱法进行元素映射分析的方法
发布日期: 2012-03-06
本国际标准提供了电子探针元素图谱分析程序,使用 波长色散光谱法。电子束数字化移动时的映射选择 在整个样本中(电子束映射)和仅带有台移动的映射(大面积映射)是 评估。它描述了五种类型的数据处理:原始X射线强度数据法、k值法、, 校准方法、相关方法和矩阵校正方法。
This International Standard provides procedures for electron microprobe elemental-mapping analysis using wavelength-dispersive spectrometry. The choice between mapping with the electron beam moving digitally across the specimen (electron beam mapping) and mapping with stage movement only (large-area mapping) is assessed. It describes five types of data processing: the raw X?ray intensity data method, the k?value method, the calibration method, the correlation method and the matrix correction method.
分类信息
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研制信息
归口单位: ISO/TC 202/SC 2
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