YS/T 679-2018-非本征半导体中少数载流子扩散长度的测试表面光电压法-国家数字标准馆

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非本征半导体中少数载流子扩散长度的测试表面光电压法 Test methods for minority carrier diffusion length in extrinsic semiconductors-Surface photovoltage method

发布日期： 2018-10-22

实施日期： 2019-04-01

本标准规定了非本征半导体材料中少数载流子扩散长度的测试方法，包含稳态光电压法、恒定光通量法和数字示波器记录法

分类信息

发布单位或类别：中国-行业标准-有色金属

CCS分类： H21冶金 - 金属理化性能试验方法 - 金属物理性能试验方法

ICS分类： 77.040冶金 - 金属材料试验

关联关系

研制信息

归口单位：全国有色金属标准化技术委员会

起草单位：有研半导体材料有限公司、瑟米莱伯贸易(上海)有限公司、上海合晶硅材料有限公司、浙江金瑞泓科技股份有限公司、南京国盛电子有限公司、天津市环欧半导体材料技术有限公司

起草人：卢立延、孙燕、潘紫龙、黄黎、徐红骞、徐新华、张海英、骆红、张雪囡

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