T/CIE 155-2023-非易失性相变存储器电性能测试方法-国家数字标准馆

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非易失性相变存储器电性能测试方法

发布日期： 2023-03-20

实施日期： 2023-03-20

主要技术内容:本文件规定了相变存储器件单元的电性能测试方法，分为器件性能测试和器件可靠性测试，器件性能测试包括电流-电压特性、存储窗口、置位时间、置位电压、复位时间、复位电压、功耗；器件可靠性测试包括耐久和数据保持时间

分类信息

发布单位或类别：中国-团体标准

CCS分类： L56电子元器件与信息技术 - 微电路 - 半导体集成电路

ICS分类： 31.200电子学 - 集成电路、微电子学

关联关系

研制信息

归口单位：中国电子学会

起草单位：华中科技大学、长江存储科技有限责任公司、中国计量科学研究院、中国电子技术标准化研究院

起草人：缪向水、何强、童浩、程晓敏、徐明、刘峻、李硕、任玲玲、李锟

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