现行

BS ISO 19463-2018

Microbeam analysis. Electron probe microanalyser (EPMA). Guidelines for performing quality assurance procedures
微束分析 电子探针微量分析仪（EPMA） 执行质量保证程序的指南

2018-07-30

现行

ISO 19463-2018

Microbeam analysis — Electron probe microanalyser (EPMA) — Guidelines for performing quality assurance procedures
微束分析 - 电子探针显微分析仪（EPMA） - 执行质量保证程序的指南

2018-07-26

现行

BS ISO 23833-2013

Microbeam analysis. Electron probe microanalysis (EPMA). Vocabulary
微束分析 电子探针微量分析（EPMA） 词汇

2013-04-30

现行

KS D ISO 23833

마이크로빔 분석 — 전자 탐침 미소분석 — 용어
微束分析.电子探针显微分析（EPMA）.词汇

2022-08-22

现行

ISO 23833-2013

Microbeam analysis — Electron probe microanalysis (EPMA) — Vocabulary
微束分析——电子探针微量分析（EPMA）——词汇

2013-04-05

现行

KS D ISO 23833

마이크로빔 분석 — 전자 탐침 미소분석 — 용어
微束分析 - 电子探针微量分析（Epma） - 词汇

2018-05-23

现行

GB/T 21636-2021

微束分析 电子探针显微分析（EPMA） 术语
Microbeam analysis—Electron probe microanalysis (EPMA)—Vocabulary

2021-12-31

现行

BS ISO 15632-2021

Microbeam analysis. Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy-dispersive X-ray spectrometers (EDS) for use with a scanning electron microscope (SEM) or an electron probe microanalyser (EPMA)
微束分析 用于扫描电子显微镜（SEM）或电子探针微分析仪（EPMA）的能量色散X射线光谱仪（EDS）规范和检查的选定仪器性能参数

2021-02-22

现行

KS D ISO 15632

마이크로빔 분석 — 주사전자현미경(SEM) 또는 전자 탐침 미소분석기(EPMA)에서 사용하는 에너지 분산 엑스선 분광기(EDS)의 사양과 점검을 위해 선택한 기기 성능 파라미터
微束分析.与扫描电子显微镜（SEM）或电子探针微量分析仪（EPMA）一起使用的能量色散X射线光谱仪（EDS）的规范和检查所选仪器性能参数

2023-11-20

现行

ISO 15632-2021

Microbeam analysis — Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy-dispersive X-ray spectrometers (EDS) for use with a scanning electron microscope (SEM) or an electron probe microanalyser (EPMA)
微束分析.与扫描电子显微镜（SEM）或电子探针显微分析仪（EPMA）一起使用的能量色散X射线光谱仪（EDS）规范和检查用选定仪器性能参数

2021-02-12

现行

KS D ISO 14595

마이크로빔 분석 — 전자 탐침 미소분석 — 인증표준물질에 관한 지침
微束分析 - 电子探针微量分析 - 认证参考材料（CRM）规范指南

2018-05-23

现行

KS D ISO 14595(2023 Confirm)

마이크로빔 분석 — 전자 탐침 미소분석 — 인증표준물질에 관한 지침
微束分析.电子探针微量分析.标准物质规范指南

2018-05-23

现行

ISO 14595-2023

Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Guidelines for the specification of certified reference materials (CRMs)
微束分析.电子探针微量分析.标准物质规范指南

2023-06-08

现行

GB/T 4930-2021

微束分析 电子探针显微分析 标准样品技术条件导则
Microbeam analysis—Electron probe microanalysis—Guidelines for the specification of certified reference materials (CRMs)

2021-05-21

现行

BS ISO 14594-2014

Microbeam analysis. Electron probe microanalysis. Guidelines for the determination of experimental parameters for wavelength dispersive spectroscopy
微束分析 电子探针微量分析 波长色散光谱学实验参数测定指南

2014-11-30

现行

KS D ISO 14594

마이크로빔 분석 — 전자 탐침 미소분석 — 파장 분산 분광분석에서 실험 변수 결정 지침
微束分析 - 电子探针微量分析 - 波长色散光谱实验参数测定指南

2018-05-23

现行

KS D ISO 14594(2023 Confirm)

마이크로빔 분석 — 전자 탐침 미소분석 — 파장 분산 분광분석에서 실험 변수 결정 지침
微束分析.电子探针微量分析.波长色散光谱法实验参数测定指南

2018-05-23

现行

ISO 14594-2024

Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Guidelines for the determination of experimental parameters for wavelength dispersive spectroscopy
微束分析——电子探针微分析——波长色散光谱实验参数测定指南

2024-06-07

现行

GB/T 30705-2014

微束分析 电子探针显微分析 波谱法实验参数测定导则
Microbeam analysis―Electron probe microanalysis―Guidelines for the determination of experimental parameters for wavelength dispersive spectroscopy

2014-03-27

现行

BS ISO 17470-2014

Microbeam analysis. Electron probe microanalysis. Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
微束分析 电子探针微量分析 波长色散X射线光谱法定性点分析指南

2014-01-31