KS C IEC 60747-4-2-2002(2017)-半导体器件分立器件第4－2部分:微波二极管和晶体管集成电路微波放大器空白详细规范 -国家数字标准馆

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반도체 소자－개별 소자－제4－2부：마이크로파 다이오드 및 트랜지스터－집적 회로 마이크로파 증폭기－개별 규격 지침 半导体器件分立器件第4－2部分:微波二极管和晶体管集成电路微波放大器空白详细规范

发布日期： 2002-12-31

在微波二极管和晶体管中，提供关于集成电路微波放大器的标准。电子元器件的IEC质量认证制度在IEC的许可下，与IEC附属文件一致运行。该制度的目的是规定由一个参加国出厂的电子元器件不经过单独试验就能在所有参加国认可的质量认证程序。该个别规格指南是关于半导体元件的一系列个别规格指南之一，应与下列IEC规格并用。

마이크로파 다이오드와 트랜지스터 중에서 집적 회로 마이크로파 증폭기에 관한 표준을 제공한다. 전자 부품에 대한 IEC 품질 인증 제도는 IEC의 허가하에 IEC 부속 문서와 일치하게 운영되고 있다. 이 제도의 목적은 한 참가국에 의해 출하된 전자 부품이 별도의 시험을 거치지 않고 모든 참가국에서 인정될 수 있는 품질 인증 절차를 규정하기 위함이다. 이 개별 규격 지침은 반도체 소자에 관한 일련의 개별 규격 지침 중 하나로, 다음의 IEC 규격과 병용해야 한다.

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