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JEDEC JEP150
STRESS-TEST-DRIVEN QUALIFICATION OF AND FAILURE MECHANISMS ASSOCIATED WITH ASSEMBLED SOLID STATE SURFACE-MOUNT COMPONENTS
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与组装的固态表面安装组件相关的应力测试驱动鉴定和失效机制
发布单位或类别:
JEDEC固态技术协会
发布日期:
2005-05-01
CCS分类:
ICS分类:
现行
JEDEC JESD235D
High Bandwidth Memory (HBM) DRAM (HBM1, HBM2)
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高带宽存储器(HBM)DRAM(HBM1、HBM2)
发布单位或类别:
JEDEC固态技术协会
发布日期:
2021-02-01
CCS分类:
ICS分类:
现行
JEDEC JESD18-A
STANDARD FOR DESCRIPTION OF FAST CMOS TTL COMPATIBLE LOGIC
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快速CMOS TTL兼容逻辑描述标准
发布单位或类别:
JEDEC固态技术协会
发布日期:
1993-01-01
CCS分类:
ICS分类:
现行
JEDEC JS-001A-2011
ELECTROSTATIC DISCHARGE SENSITIVITY TESTING, HUMAN BODY MODEL (HBM) - COMPONENT LEVEL
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静电放电灵敏度测试 人体模型(HBM)-部件级
发布单位或类别:
JEDEC固态技术协会
发布日期:
2011-04-01
CCS分类:
ICS分类:
现行
JEDEC JEP 79
LIFE TEST METHODS FOR PHOTOCONDUCTIVE CELLS
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光电导电池寿命试验方法
发布单位或类别:
JEDEC固态技术协会
发布日期:
1969-09-01
CCS分类:
ICS分类:
现行
JEDEC JESD 354(R2009)
THE MEASUREMENT OF TRANSISTOR EQUIVALENT NOISE VOLTAGE AND EQUIVALENT NOISE CURRENT AT FREQUENCIES OF UP TO 20 kHz
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在高达20 kHz的频率下测量晶体管等效噪声电压和等效噪声电流
发布单位或类别:
JEDEC固态技术协会
发布日期:
1968-04-01
CCS分类:
ICS分类:
现行
JEDEC JS 9703
IPC/JEDEC-9703: Mechanical Shock Test Guidelines for Solder Joint Reliability
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IPC/JEDEC-9703:焊点可靠性机械冲击试验指南
发布单位或类别:
JEDEC固态技术协会
发布日期:
2009-03-01
CCS分类:
ICS分类:
现行
JEDEC JESD15-3
TWO-RESISTOR COMPACT THERMAL MODEL GUIDELINE
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双电阻紧凑型热模型指南
发布单位或类别:
JEDEC固态技术协会
发布日期:
2008-07-01
CCS分类:
ICS分类:
现行
JEDEC JESD229-2
WIDE I/O 2 (WideIO2)
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宽I/O 2(宽IO2)
发布单位或类别:
JEDEC固态技术协会
发布日期:
2014-08-01
CCS分类:
ICS分类:
现行
JEDEC JESD 372(R2009)
THE MEASUREMENT OF SMALL-SIGNAL VHF-UHF TRANSISTOR ADMITTANCE PARAMETERS
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小信号VHF-UHF晶体管导纳参数的测量
发布单位或类别:
JEDEC固态技术协会
发布日期:
1970-05-01
CCS分类:
ICS分类:
【到馆阅览须知】
国家标准馆位于北京市海淀区知春路4号,可接待到馆读者,为读者提供标准文献检索、文献阅览、信息咨询、信息跟踪、信息推送等服务。
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开放时间:
每周一至周五8:30-17:00(节假日不开放)
地 址:
北京市海淀区知春路4号
乘车线路:
乘坐地铁10号线、昌平线,在西土城站下车D口出后西行150米即可到达。
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赵老师 电话:010-58811369 邮箱:zhaoping@cnis.ac.cn
刘老师 电话:010-58811368 邮箱:liuyzh@cnis.ac.cn
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