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被代替
GB/T 14028-1992
半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
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General principles of measuring methods of analogue switches for semiconductor integrated circuits
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
1992-12-18
CCS分类：
L55微电路综合
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
GB/T 14032-1992
半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
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General principles of measuring methods of digital phase-locked loop for semiconductor integrated circuits
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
1992-12-17
CCS分类：
L55微电路综合
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
废止
GB/T 15136-1994
半导体集成电路石英钟表电路测试方法的基本原理
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General principles of measuring methods for quartz clock and watch circuits of semiconductor integrated circuits
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
1994-06-25
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
废止
GB/T 12845-1991
半导体集成电路非线性电路系列和品种 电压/ 频率和频率/ 电压转换器的品种
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Series and products of nonlinear circuits for semiconductor integrated circuits—Products of voltage/frequency and frequency/voltage converters
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
1991-04-28
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
废止
GB/T 12844-1991
半导体集成电路非线性电路系列和品种 采样/ 保持放大器的品种
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Series and products of nonlinear circuits for semiconductor integrated circuits—Products of sample/hold amplifiers
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
1991-04-28
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
SJ 50597/26-1994
半导体集成电路 ＪＦ１４５７３型ＣＭＯＳ四程控运算放大器详细规范
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Semiconductor integrated circuit--Detail specification for type JF14573 CMOS quad programmble operational amplifier
发布单位或类别：
行业标准-电子
发布日期：
1994-09-30
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
现行
SJ 50597/25-1994
半导体集成电路 ＪＦ７６５０型ＣＭＯＳ高精度运算放大器详细规范
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Semiconductor integrated circuits--Detail specification for type JF7650 CMOS operational amplifier with high accuracy
发布单位或类别：
行业标准-电子
发布日期：
1994-09-30
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
现行
GB/T 14114-1993
半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理
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General principles of measuring methods of V/F and F/V converters for semiconductor integrated circuits
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
1993-01-21
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
GB/T 14031-1992
半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
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General principles of measuring methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
1992-12-17
CCS分类：
L55微电路综合
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
GB/T 14115-1993
半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
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General principles of measuring methods of Sample/Hold amplifiers for semiconductor integrated circuits
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
1993-01-21
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
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