登 录
注 册
个人中心
退出账号
首页
馆藏资源
舆情信息
标准服务
科研活动
关于我们
国家标准
行业标准
地方标准
团体标准
国际（区域）标准
国外国家标准
国际性专业标准
技术法规
国内舆情
国际舆情
文献服务
知识服务
服务站点
标准数字化
技贸措施研究
国家标准馆
国家数字标准馆
发展大事记
搜索
高级检索
批量检索
高级检索
起草单位: 中国电子科技集团第五十八研究所
标准层级
全部
国家标准
行业标准
地方标准
团体标准
国际（区域）标准
国外国家标准
国际性专业标准
技术法规
国家
全部
中国(8)
标准组织
全部
电子(5)
国家标准(3)
发布年代
全部
2022(3)
2018(5)
标准状态
全部
现行(8)
ICS
全部
49航空器和航天器工程(3)
CCS
全部
V航空、航天(3)
展开全部分类
排序结果：
相关性
标准号
发布时间
现行
GB/T 41270.7-2022
航空电子过程管理 大气辐射影响 第7部分：航空电子产品设计中单粒子效应分析过程管理
到馆阅读
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
Process management for avionics—Atmospheric radiation effects—Part 7： Management of single event effects (SEE) analysis process in avionics design
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2022-03-09
CCS分类：
V25电子元器件
ICS分类：
49.020航空器和航天器综合
现行
SJ 21384-2018
氧化层可动电荷的电容-电压测试方法
到馆阅读
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
Test method of capacitance-voltage for mobile ion charge of oxides
发布单位或类别：
行业标准-电子
发布日期：
2018-01-18
CCS分类：
ICS分类：
现行
SJ 21383-2018
P-N结隔离测试方法
到馆阅读
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
Test method for P-N junction isolation
发布单位或类别：
行业标准-电子
发布日期：
2018-01-18
CCS分类：
ICS分类：
现行
SJ 21382-2018
离子注入均匀性测试方法
到馆阅读
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
Test method for the ion implantation uniformity
发布单位或类别：
行业标准-电子
发布日期：
2018-01-18
CCS分类：
ICS分类：
现行
SJ 21381-2018
时间相关介质击穿(TDD8)测试方法
到馆阅读
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
Test method for time dependent dielectric breakdown ( TDDB)
发布单位或类别：
行业标准-电子
发布日期：
2018-01-18
CCS分类：
ICS分类：
现行
SJ 21380-2018
热载流子效应测试方法
到馆阅读
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
Test method of hot carrier effect
发布单位或类别：
行业标准-电子
发布日期：
2018-01-18
CCS分类：
ICS分类：
现行
GB/T 41275.3-2022
航空电子过程管理 含无铅焊料航空航天及国防电子系统 第3部分：含无铅焊料和无铅管脚的系统性能试验方法
到馆提醒
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
Process management for avionics—Aerospace and defence electronic systems containing lead-free solder—Part 3：Performance testing for systems containing lead-free solder and finishes
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2022-03-09
CCS分类：
V25电子元器件
ICS分类：
49.025.01航空航天制造用材料综合
现行
GB/T 41275.2-2022
航空电子过程管理 含无铅焊料航空航天及国防电子系统 第2部分：减少锡有害影响
到馆阅读
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
Process management for avionics—Aerospace and defence electronic systems containing lead-free solder—Part 2：Mitigation of deleterious effects of tin
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2022-03-09
CCS分类：
V25电子元器件
ICS分类：
49.025.01航空航天制造用材料综合
【到馆阅览须知】
国家标准馆位于北京市海淀区知春路4号，可接待到馆读者，为读者提供标准文献检索、文献阅览、信息咨询、信息跟踪、信息推送等服务。
1. 本馆向在国家数字标准馆网络平台上完成实名注册和预约的读者开放。
2. 请勿在非开放范围随意走动和从事与国家标准馆所提供服务无关的活动。
3. 请勿携带食品、有色和含糖饮料进入阅览区域。
4. 禁止在馆区内吸烟和使用明火，禁止携带易燃、易爆、有毒等危险品。
5. 请注意仪表着装，衣冠整洁得体，言谈举止文明。
6. 请遵守公共秩序和国家标准馆相关管理规定，服从工作人员管理，自觉维护参观秩序和良好的阅读环境。
开放时间：
每周一至周五8:30-17:00（节假日不开放）
地 址：
北京市海淀区知春路4号
乘车线路：
乘坐地铁10号线、昌平线，在西土城站下车D口出后西行150米即可到达。
服务咨询：
赵老师 电话：010-58811369 邮箱：zhaoping@cnis.ac.cn
刘老师 电话：010-58811368 邮箱：liuyzh@cnis.ac.cn
取消
确认预约到馆
搜索
首页
馆藏资源
舆情信息
标准服务
科研活动
关于我们
️版权归中国标准化研究院所有