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现行
DB61/T 1250-2019
Sic(碳化硅)材料半导体分立器件通用规范
发布单位或类别:陕西省地方标准
发布日期: 2019-06-25
ICS分类:01.040词汇
现行
GB/T 43061-2023
半导体集成电路 PWM控制器测试方法
Semiconductor integrated circuits—Test methods of PWM controller
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2023-09-07
CCS分类:L55微电路综合
正在征求意见
20240783-T-339
半导体器件的机械标准化 第6-13部分:密节距焊球阵列封装(FBGA)和密节距焊盘阵列封装(FLGA)顶部开放式插座的设计指南
Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-13: Design guideline of open-top-type sockets for Fine-pitch Ball Grid Array (FBGA) and Fine-pitch Land Grid Array (FLGA)
发布单位或类别:国家标准计划
下达日期: 2024-04-25
CCS分类:
现行
GB/T 41033-2021
CMOS集成电路抗辐射加固设计要求
Design requirements of radiation hardening for CMOS IC
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2021-12-31
现行
GB/T 43040-2023
半导体集成电路 AC/DC变换器测试方法
Semiconductor integrated circuits—Test method of AC/DC converters
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2023-09-07
CCS分类:L55微电路综合
现行
GB/T 41035-2021
航天用可扩展架构计算机电源测试方法
Test method for aerospace ATX power supply
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2021-12-31
CCS分类:V25电子元器件
现行
GB/T 39343-2020
宇航用处理器器件单粒子试验设计与程序
Processor device single event effects experiment design and procedure for aerospace
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2020-11-19
CCS分类:V25电子元器件
现行
GB/T 39346-2020
空间霍尔电推进功率处理单元测试方法
Space hall electric propulsion power processing unit test method
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2020-11-19
CCS分类:V25电子元器件