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T/ZZB 2675-2022
TVS用硅单晶研磨片
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发布单位或类别：团体标准
发布日期： 2022-04-13
现行
GB/T 1551-2021
硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法
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Test method for measuring resistivity of monocrystal silicon—In-line four-point probe and direct current two-point probe method
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2021-05-21
现行
GB/T 1558-2023
硅中代位碳含量的红外吸收测试方法
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Test method for substitutional carbon content in silicon by infrared absorption
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2023-12-28
现行
GB/T 40279-2021
硅片表面薄膜厚度的测试 光学反射法
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Test method for thickness of films on silicon wafer surface—Optical reflection method
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2021-08-20
现行
GB/T 26069-2022
硅单晶退火片
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Annealed monocrystalline silicon wafers
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2022-03-09
现行
GB/T 32280-2022
硅片翘曲度和弯曲度的测试 自动非接触扫描法
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Test method for warp and bow of silicon wafers—Automated non-contact scanning method
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2022-03-09
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  • 《国家标准化发展纲要》提出建设国家数字标准馆，推动标准化工作向数字化、网络化、智能化转型。中国标准化研究院正在全力推进国家数字标准馆建设，力争在2026年底建成“一个中心”和“一个平台”，即全球领先的标准数据资源中心，涵盖标准全生命周期的数字化、网络化、智能化研究与服务平台。
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