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  • 发布时间
现行
T/CIE 150-2022
现场可编程门阵列(FPGA)芯片时序可靠性测试规范
发布单位或类别:团体标准
发布日期: 2022-12-31
现行
GB/T 42839-2023
半导体集成电路 模拟数字(AD)转换器
Semiconductor integrated circuits—Analog digital(AD) converter
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2023-08-06
现行
T/CIE 151-2022
现场可编程门阵列(FPGA)芯片动态老化试验方法
发布单位或类别:团体标准
发布日期: 2022-12-31
现行
GB/T 42973-2023
半导体集成电路 数字模拟(DA)转换器
Semiconductor integrated circuits—Digital-analog(DA)converter
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2023-09-07