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标准号
发布时间
现行
T/CDEIIA 01-2023
成都市电子信息行业协会优秀会员企业评价认定规范
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发布单位或类别：
团体标准
发布日期：
2023-06-19
CCS分类：
ICS分类：
03.080.99其他服务
现行
GB/T 41780.1-2022
物联网 边缘计算 第1部分：通用要求
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Internet of things—Edge computing—Part 1:General requirements
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2022-10-12
CCS分类：
L79计算机开放与系统互连
ICS分类：
35.110网络
现行
GB/T 35010.6-2018
半导体芯片产品 第6部分：热仿真要求
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Semiconductor die products—Part 6: Requirements for concerning thermal simulation
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2018-03-15
CCS分类：
L55微电路综合
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
GB/T 4377-2018
半导体集成电路 电压调整器测试方法
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Semiconductor integrated circuits—Measuring method of voltage regulators
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2018-03-15
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
GB/T 42970-2023
半导体集成电路 视频编解码电路测试方法
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Semiconductor integrated circuits—Measuring methods of video encoder and decoder circuits
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-09-07
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
GB/T 35007-2018
半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
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Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2018-03-15
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
正在批准
20182269-T-339
半导体集成电路 射频发射器/接收器测试方法
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Semiconductor integrated circuits—Measuring methods for RF transmitter/receiver
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2018-11-02
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
GB/T 35006-2018
半导体集成电路 电平转换器测试方法
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Semiconductor integrated circuits—Measuring method of level converter
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2018-03-15
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
GB/T 42975-2023
半导体集成电路 驱动器测试方法
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Semiconductor integrated circuits—Test method of driver device
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-09-07
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
GB/T 42848-2023
半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法
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Semiconductor intergrated circuits—Test method of direct digital frequency synthesizer
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-08-06
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
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国家标准馆位于北京市海淀区知春路4号，可接待到馆读者，为读者提供标准文献检索、文献阅览、信息咨询、信息跟踪、信息推送等服务。
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每周一至周五8:30-17:00（节假日不开放）
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