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  • 排序结果:
  • 相关性
  • 标准号
  • 发布时间
现行
发布单位或类别:团体标准
发布日期: 2022-05-10
CCS分类:
现行
GB/T 24581-2022
硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法
Test method for Ⅲ and Ⅴ impurities content in single crystal silicon—Low temperature FT-IR analysis method
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2022-03-09
现行
发布单位或类别:团体标准
发布日期: 2022-07-04
CCS分类:
现行
T/ICMTIA CM0035-2023
半导体硅材料制程装置用密封垫片
发布单位或类别:团体标准
发布日期: 2023-03-10
CCS分类:
现行
T/ICMTIA BS0029-2022
集成电路材料产品成熟度等级划分及定义
发布单位或类别:团体标准
发布日期: 2022-07-04
CCS分类:
现行
T/CNIA 0141-2022
多晶硅生产用氢气中金属杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法
发布单位或类别:团体标准
发布日期: 2022-02-28
CCS分类:
现行
Water saving enterprises—Polysilicon industry
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2020-06-02
CCS分类:P01技术管理