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03社会学、 服务、公司(企业)的组织和管理、行政、运输(2)
31电子学(11)
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A综合(2)
L电子元器件与信息技术(11)
展开全部分类
排序结果：
相关性
标准号
发布时间
现行
RB/T 063-2021
检验检测机构管理和技术能力评价 方法的验证和确认要求
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Competence assessment of management and technical for inspection body and laboratory—Requirements for verification and validation
发布单位或类别：
行业标准-认证认可
发布日期：
2021-11-04
CCS分类：
A00标准化、质量管理
ICS分类：
03.120.20产品认证和机构认证、合格评定
现行
GB/T 4937.26-2023
半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分：静电放电（ESD）敏感度测试 人体模型（HBM）
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Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing—Human body model（HBM）
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-09-07
CCS分类：
L40半导体分立器件综合
ICS分类：
31.080.01半导体器分立件综合
现行
GB/T 4937.31-2023
半导体器件 机械和气候试验方法 第31部分：塑封器件的易燃性（内部引起的）
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Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 31:Flammability of platic-encapsulated devices（internally induced）
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-05-23
CCS分类：
L40半导体分立器件综合
ICS分类：
31.080.01半导体器分立件综合
现行
GB/T 4937.32-2023
半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分：塑封器件的易燃性（外部引起的）
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Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 32:Flammability of platic-encapsulated devices（externally induced）
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-05-23
CCS分类：
L40半导体分立器件综合
ICS分类：
31.080.01半导体器分立件综合
现行
GB/T 15651.6-2023
半导体器件 第5-6部分：光电子器件 发光二极管
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Semiconductor devices—Part 5-6: Optoelectronic devices—Light emitting diodes
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-09-07
CCS分类：
L53半导体发光器件
ICS分类：
31.080.99其他半导体分立器件
现行
GB/T 42706.2-2023
电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分：退化机理
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Electronic components—Long-term storage of electronic semiconductor devices—Part 2：Deterioration mechanisms
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-05-23
CCS分类：
L40半导体分立器件综合
ICS分类：
31.020电子元器件综合
现行
GB/T 4937.23-2023
半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分：高温工作寿命
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Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 23:High temperature operating life
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-05-23
CCS分类：
L40半导体分立器件综合
ICS分类：
31.080.01半导体器分立件综合
正在批准
20204846-T-339
半导体器件 机械和气候试验方法 第37部分：采用加速度计的板级跌落试验方法
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Semiconductor Devices-Mechanical and Climatic Test Methods–Part 37: Board level drop test method using an accelerometer
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2020-12-24
CCS分类：
L40半导体分立器件综合
ICS分类：
31.080.01半导体器分立件综合
现行
GB/T 39663-2021
检验检测机构诚信报告编制规范
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Compilation specifications of integrity report for inspection body and laboratory
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2021-04-30
CCS分类：
A50计量综合
ICS分类：
03.100.99有关公司(企业)组织管理的其他标准
现行
GB/T 4937.27-2023
半导体器件 机械和气候试验方法 第27部分：静电放电（ESD）敏感度测试 机器模型（MM）
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Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 27: Electrostatic discharge(ESD) sensitivity testing—Machine model(MM)
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-05-23
CCS分类：
L40半导体分立器件综合
ICS分类：
31.080.01半导体器分立件综合
【到馆阅览须知】
国家标准馆位于北京市海淀区知春路4号，可接待到馆读者，为读者提供标准文献检索、文献阅览、信息咨询、信息跟踪、信息推送等服务。
1. 本馆向在国家数字标准馆网络平台上完成实名注册和预约的读者开放。
2. 请勿在非开放范围随意走动和从事与国家标准馆所提供服务无关的活动。
3. 请勿携带食品、有色和含糖饮料进入阅览区域。
4. 禁止在馆区内吸烟和使用明火，禁止携带易燃、易爆、有毒等危险品。
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6. 请遵守公共秩序和国家标准馆相关管理规定，服从工作人员管理，自觉维护参观秩序和良好的阅读环境。
开放时间：
每周一至周五8:30-17:00（节假日不开放）
地 址：
北京市海淀区知春路4号
乘车线路：
乘坐地铁10号线、昌平线，在西土城站下车D口出后西行150米即可到达。
服务咨询：
赵老师 电话：010-58811369 邮箱：zhaoping@cnis.ac.cn
刘老师 电话：010-58811368 邮箱：liuyzh@cnis.ac.cn
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