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现行
发布单位或类别:团体标准
发布日期: 2022-07-11
CCS分类:K电工
现行
GB/T 43191-2023
电动汽车交流充电桩现场检测仪
On-site testing instruments of AC charging spot for electric vehicles
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2023-09-07
现行
GB/T 17626.3-2023
电磁兼容 试验和测量技术 第3部分:射频电磁场辐射抗扰度试验
Electromagnetic compatibility—Testing and measurement techniques—Part 3:Radiated, radio-frequency,electromagnetic field immunity test
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2023-12-28
CCS分类:L06电磁兼容
ICS分类:33.100.20抗扰度
现行
GB/T 43493.2-2023
半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第2部分:缺陷的光学检测方法
Semiconductor device—Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices—Part 2: Test method for defects using optical inspection
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2023-12-28
正在批准
20214738-T-339
半导体器件 第19-1部分智能传感器 智能传感器的控制方案
Semiconductor devices Part 19-1: Smart sensors – Control scheme of smart sensors
发布单位或类别:国家标准计划
下达日期: 2021-12-31
现行
GB/T 40344.3-2024
真空技术 真空泵性能测量标准方法 第3部分:机械增压泵的特定参数
Vacuum technology—Standard methods for measuring vacuum pump performance—Part 3: Specific parameters for mechanical booster vacuum pumps
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2024-04-25
ICS分类:23.160真空技术
现行
GB/T 43916-2024
真空技术 真空计 电容薄膜真空计的规范、校准和测量不确定度
Vacuum technology—Vacuum gauges—Specifications, calibration and measurement uncertainties for capacitance diaphragm gauges
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2024-04-25
ICS分类:23.160真空技术
正在起草
20242754-T-339
半导体器件 通用鉴定指南 第2部分:可靠性鉴定中任务剖面的概念
Semiconductor devices—General qualification guidelines—Part 2:Concept of mission profile in reliability qualification
发布单位或类别:国家标准计划
下达日期: 2024-08-23
CCS分类: