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现行
SJ/T 11632-2016
太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法
Test method for microcrack defects of silicon wafers for solar cell
发布单位或类别:行业标准-电子
发布日期: 2016-04-05
现行
SJ/T 11628-2016
太阳能电池用硅片尺寸及电学表征在线测试方法
Online test methods for geometry and electrical characterizations of silicon wafers for solar cells
发布单位或类别:行业标准-电子
发布日期: 2016-04-05
现行
GB/T 30860-2014
太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法
Test methods for surface roughness and saw mark of silicon wafers for solar cells
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2014-07-24
现行
SJ/T 11629-2016
太阳能电池用硅片和电池片的在线光致发光分析方法
Test method for in-line characterization of photovoltaic silicon wafers and cells by using photoluminescence
发布单位或类别:行业标准-电子
发布日期: 2016-04-05
现行
SJ/T 11627-2016
太阳能电池用硅片电阻率在线测试方法
Online test methods for resistivity of silicon wafers for solar cell
发布单位或类别:行业标准-电子
发布日期: 2016-04-05
现行
SJ/T 11631-2016
太阳能电池用硅片外观缺陷测试方法
Test methods for surface defects of silicon wafers for solar cell
发布单位或类别:行业标准-电子
发布日期: 2016-04-05
现行
SJ/T 11630-2016
太阳能电池用硅片几何尺寸测试方法
Test method for geometric dimension of silicon wafers for solar cell
发布单位或类别:行业标准-电子
发布日期: 2016-04-05
现行
GB/T 30859-2014
太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法
Test method for warp and waviness of silicon wafers for solar cells
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2014-07-24
现行
GB/T 26068-2018
硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法
Test method for carrier recombination lifetime in silicon wafers and silicon ingots—Non-contact measurement of photoconductivity decay by microwave reflectance method
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2018-12-28
现行
GB/T 14146-2021
硅外延层载流子浓度的测试 电容-电压法
Test method for carrier concentration of silicon epitaxial layers—Capacitance-voltage method
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2021-05-21