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起草单位: 陕西有色天宏瑞科硅材料有限责任公司
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发布时间
现行
GB/T 35306-2023
硅单晶中碳、氧含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法
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Determination of carbon and oxygen content in single crystal silicon—Low temperature fourier transform infrared spectrometry method
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-08-06
CCS分类：
H17半金属及半导体材料分析方法
ICS分类：
77.040金属材料试验
现行
GB/T 24582-2023
多晶硅表面金属杂质含量测定 酸浸取-电感耦合等离子体质谱法
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Test method for measuring surface metal impurity content of polycrystalline silicon—Acid extraction-inductively coupled plasma mass spectrometry method
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-08-06
CCS分类：
H17半金属及半导体材料分析方法
ICS分类：
77.040金属材料试验
现行
GB/T 24581-2022
硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法
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Test method for Ⅲ and Ⅴ impurities content in single crystal silicon—Low temperature FT-IR analysis method
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2022-03-09
CCS分类：
H17半金属及半导体材料分析方法
ICS分类：
77.040金属材料试验
现行
GB/T 1553-2023
硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法
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Test methods for minority carrier lifetime in bulk silicon and germanium—Photoconductivity decay method
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-08-06
CCS分类：
H21金属物理性能试验方法
ICS分类：
77.040金属材料试验
现行
GB/T 1558-2023
硅中代位碳含量的红外吸收测试方法
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Test method for substitutional carbon content in silicon by infrared absorption
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-12-28
CCS分类：
H17半金属及半导体材料分析方法
ICS分类：
77.040金属材料试验
现行
GB/T 38907-2020
节水型企业 多晶硅行业
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Water saving enterprises—Polysilicon industry
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2020-06-02
CCS分类：
P01技术管理
ICS分类：
03.100.50生产、生产管理
现行
GB/T 30652-2023
硅外延用三氯氢硅
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Trichlorosilane for silicon epitaxial
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-08-06
CCS分类：
H83化合物半导体材料
ICS分类：
29.045半导体材料
现行
GB/T 35307-2023
流化床法颗粒硅
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Granular polysilicon produced by fluidized bed method
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-08-06
CCS分类：
H82元素半导体材料
ICS分类：
29.045半导体材料
现行
GB/T 12963-2022
电子级多晶硅
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Electronic-grade polycrystalline silicon
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2022-12-30
CCS分类：
H82元素半导体材料
ICS分类：
29.045半导体材料
现行
GB/T 18916.47-2020
取水定额 第47部分：多晶硅生产
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Norm of water intake—Part 47: Polysilicon production
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2020-03-31
CCS分类：
P41室外给水、排水工程
ICS分类：
13.060.25工业用水
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国家标准馆位于北京市海淀区知春路4号，可接待到馆读者，为读者提供标准文献检索、文献阅览、信息咨询、信息跟踪、信息推送等服务。
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每周一至周五8:30-17:00（节假日不开放）
地 址：
北京市海淀区知春路4号
乘车线路：
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