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现行
General rules for Fourier transform infrared spectrometer
发布单位或类别:行业标准-教育
发布日期: 1997-01-23
ICS分类:
现行
Colormeter(Tintometer)
发布单位或类别:行业标准-机械
发布日期: 1999-08-06
废止
The dose of X-rays leakage from electron microscope
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2003-11-20
ICS分类:37.020光学设备
被代替
Laser guards
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2000-07-24
被代替
GB/T 17723-1999
黄金制品镀层成分的X射线能谱测量方法
Surface composition analysis method of gold-plated products by EDX
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 1999-04-11
ICS分类:37.020光学设备
被代替
GB/T 17507-1998
电子显微镜 X射线能谱分析生物薄标样通用技术条件
General specification of thin biological standards for X-Ray EDS microanalysis in electron microscope
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 1998-10-16
ICS分类:37.020光学设备
被代替
GB/T 17506-1998
船舶黑色金属腐蚀层的电子探针分析方法
The method of electron probe microanalysis as corrosive layer on ferrous metals of ship
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 1998-10-16
ICS分类:37.020光学设备
被代替
GB/T 17362-1998
黄金饰品的扫描电镜X射线能谱分析方法
Nondestructive method of X-ray EDS analysis with SEM for gold jewelry
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 1998-05-08
ICS分类:37.020光学设备
被代替
GB/T 17361-1998
沉积岩中自生粘土矿物扫描电子显微镜及X射线能谱鉴定方法
Identification method of authigenic clay mineral in sedimentary rock by SEM and XEDS
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 1998-05-08
ICS分类:37.020光学设备
被代替
GB/T 17360-1998
钢中低含量Si、Mn的电子探针定量分析方法
Method of quantitative electron probe microanalysis on low contents of Si and Mn in steels
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 1998-05-08
ICS分类:37.020光学设备