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  • 发布时间
现行
YD/T 3954-2021
云服务用户数据保护能力参考框架
发布单位或类别:行业标准-邮电通信
发布日期: 2021-12-02
CCS分类:M10通信网综合
ICS分类:33.040电信系统
现行
YD/T 3797.1-2021
云服务用户数据保护能力评估方法 第1部分:公有云
发布单位或类别:行业标准-邮电通信
发布日期: 2021-12-02
CCS分类:M10通信网综合
ICS分类:33.040电信系统
现行
YD/T 3797.2-2020
云服务用户数据保护能力评估方法 第2部分:私有云
发布单位或类别:行业标准-邮电通信
发布日期: 2020-12-09
CCS分类:L64数据媒体
现行
T/CIE 145-2022
辐射诱生缺陷的深能级瞬态谱测试方法
发布单位或类别:团体标准
发布日期: 2022-12-31
CCS分类:
现行
SJ/T 11586-2016
半导体器件10KeV低能X射线总剂量辐照试验方法
10keV X-ray total dose radiation testing method of semiconductor devices
发布单位或类别:行业标准-电子
发布日期: 2016-01-15
正在批准
20201546-T-339
半导体器件 机械与气候试验方法 第44部分:半导体器件的中子辐照单粒子效应(SEE)试验方法
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
发布单位或类别:国家标准计划
下达日期: 2020-04-01
正在批准
20201539-T-339
半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分:带存储的半导体器件的软错误试验方法
Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory
发布单位或类别:国家标准计划
下达日期: 2020-04-01