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标准号
发布时间
现行
GB/T 6113.106-2018
无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 第1-6部分：无线电骚扰和抗扰度测量设备 EMC天线校准
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Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods—Part 1-6:Radio disturbance and immunity measuring apparatus—EMC antenna calibration
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2018-12-28
CCS分类：
L06电磁兼容
ICS分类：
33.100电磁兼容性(EMC)
现行
GB/T 43034.3-2023
集成电路 脉冲抗扰度测量 第3部分：非同步瞬态注入法
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Integrated circuits—Measurement of impulse immunity—Part 3: Non-synchronous transient injection method
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-09-07
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
正在批准
20204841-T-339
集成电路 电磁发射测量 第4部分：传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法
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Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 4: Measurement of conducted emissions—1Ω/150Ω direct coupling method
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2020-12-24
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
正在批准
20214063-T-339
集成电路 电磁发射测量 第5部分：传导发射测量 工作台法拉第笼法
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Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions,150kHz to 1GHz-Part 5:Measurement of conducted emissions？- Workbench Faraday Cage method
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2021-10-13
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
GB/T 42968.8-2023
集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法
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Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 8: Measurement of radiated immunity—IC stripline method
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-09-07
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
GB/T 44635-2024
静电放电敏感度试验 传输线脉冲 器件级
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Electrostatic discharge sensitivity testing—Transmission line pulse(TLP)—Component level
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2024-09-29
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.080半导体分立器件
正在批准
20213161-T-339
集成电路电磁兼容建模 第3部分：集成电路电磁干扰特性仿真模型 辐射发射建模（ICEM-RE）
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EMC IC Modelling -Part 3: Models of integrated circuits for EMI behavioural simulation -Radiated emissions modelling (ICEM-RE)
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2021-08-24
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
GB/T 42968.1-2023
集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分：通用条件和定义
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Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 1: General conditions and definitions
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-09-07
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
正在批准
20214064-T-339
集成电路 电磁发射测量 第8部分：辐射发射测量 带状线法
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Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions- Part 8: Measurement of radiated emissions-IC stripeline method
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2021-10-13
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
GB/T 44806.1-2024
集成电路 收发器的EMC评估 第1部分：通用条件和定义
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Integrated circuits—EMC evaluation of transceivers—Part 1:General conditions and definitions
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2024-10-26
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
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国家标准馆位于北京市海淀区知春路4号，可接待到馆读者，为读者提供标准文献检索、文献阅览、信息咨询、信息跟踪、信息推送等服务。
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开放时间：
每周一至周五8:30-17:00（节假日不开放）
地 址：
北京市海淀区知春路4号
乘车线路：
乘坐地铁10号线、昌平线，在西土城站下车D口出后西行150米即可到达。
服务咨询：
赵老师 电话：010-58811369 邮箱：zhaoping@cnis.ac.cn
刘老师 电话：010-58811368 邮箱：liuyzh@cnis.ac.cn
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