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ICS
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31电子学(2)
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CCS
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L电子元器件与信息技术(2)
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相关性
标准号
发布时间
现行
T/BIA 17-2024
数字人指标要求及评估方法 第 1 部分:平台基础能力
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发布单位或类别:
团体标准
发布日期:
2024-02-02
CCS分类:
ICS分类:
33.160.01音频、视频和视听系统综合
现行
T/BIA 19-2024
虚拟空间创作平台评价指标与方法参考框架及功能
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发布单位或类别:
团体标准
发布日期:
2024-07-31
CCS分类:
ICS分类:
35.020信息技术(IT)综合
现行
GB/T 15879.4-2019
半导体器件的机械标准化 第4部分:半导体器件封装外形的分类和编码体系
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Mechanical standardization of semiconductor devices—Part 4: Coding system and classification into forms of package outlines for semiconductor device packages
发布单位或类别:
国家标准
发布日期:
2019-08-30
CCS分类:
L55微电路综合
ICS分类:
31.080半导体分立器件
正在批准
20213172-T-339
半导体器件 金属化空洞应力试验
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Semiconductor devices – Metallization stress void test
发布单位或类别:
国家标准计划
下达日期:
2021-08-24
CCS分类:
L00标准化、质量管理
ICS分类:
31.080.01半导体器分立件综合
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国家标准馆位于北京市海淀区知春路4号,可接待到馆读者,为读者提供标准文献检索、文献阅览、信息咨询、信息跟踪、信息推送等服务。
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开放时间:
每周一至周五8:30-17:00(节假日不开放)
地 址:
北京市海淀区知春路4号
乘车线路:
乘坐地铁10号线、昌平线,在西土城站下车D口出后西行150米即可到达。
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