登 录
注 册
个人中心
退出账号
首页
馆藏资源
舆情信息
标准服务
科研活动
关于我们
国家标准
行业标准
地方标准
团体标准
国际（区域）标准
国外国家标准
国际性专业标准
技术法规
国内舆情
国际舆情
文献服务
知识服务
服务站点
标准数字化
技贸措施研究
国家标准馆
国家数字标准馆
发展大事记
搜索
高级检索
批量检索
高级检索
起草人: 吴维丽
标准层级
全部
国家标准
行业标准
地方标准
团体标准
国际（区域）标准
国外国家标准
国际性专业标准
技术法规
国家
全部
中国(13)
标准组织
全部
国家标准研制计划(7)
国家标准(5)
团体标准(1)
发布年代
全部
2024(2)
2023(2)
2020(2)
2019(1)
2018(1)
2014(3)
2013(2)
标准状态
全部
现行(5)
未生效(1)
ICS
全部
31电子学(13)
CCS
全部
L电子元器件与信息技术(13)
展开全部分类
排序结果：
相关性
标准号
发布时间
暂缓
20130107-T-339
半导体器件 机械和气候试验方法 第6部分:高温贮存
到馆提醒
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-part 6:Storage at high temperature
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2013-08-01
CCS分类：
L40半导体分立器件综合
ICS分类：
31.080.01半导体器分立件综合
现行
GB/T 42836-2023
微波半导体集成电路 混频器
到馆阅读
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
Microwave semiconductor integrated circuits—Frequency mixer
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-08-06
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
GB/T 42837-2023
微波半导体集成电路 放大器
到馆阅读
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
Microwave semiconductor integrated circuits—Amplifier
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-08-06
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
正在批准
20141817-T-339
半导体器件 机械和气候试验方法 第24部分:加速耐湿-无偏置强加速应力试验
到馆提醒
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2014-12-23
CCS分类：
L40半导体分立器件综合
ICS分类：
31.080.01半导体器分立件综合
正在批准
20192066-T-339
集成电路晶圆可靠性评价要求
到馆提醒
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
Requirements of IC wafer level reliability experiment and design
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2019-07-12
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
正在批准
20141819-T-339
半导体器件 机械和气候试验方法 第33部分:加速耐湿-无偏置高压蒸煮
到馆提醒
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2014-12-23
CCS分类：
L40半导体分立器件综合
ICS分类：
31.080.01半导体器分立件综合
正在批准
20201541-T-339
半导体器件 机械和气候试验方法 第36部分：稳态加速度
到馆提醒
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-part 36:Acceleration，steady state
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2020-04-01
CCS分类：
L40半导体分立器件综合
ICS分类：
31.080.01半导体器分立件综合
暂缓
20130106-T-339
半导体器件 机械和气候试验方法 第5部分:稳态温湿度偏置寿命试验
到馆提醒
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-part5: Steady-state temperature humidity bias life test
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2013-08-01
CCS分类：
L40半导体分立器件综合
ICS分类：
31.080.01半导体器分立件综合
正在批准
20141818-T-339
半导体器件 机械和气候试验方法 第25部分:温度循环
到馆提醒
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-part 25: Temperature cycling
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2014-12-23
CCS分类：
L40半导体分立器件综合
ICS分类：
31.080.01半导体器分立件综合
现行
GB/T 20870.4-2024
半导体器件 第16-4部分：微波集成电路 开关
到馆提醒
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
Semiconductor devices—Part 16-4：Microwave intergrated circuits—Switches
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2024-10-26
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.080.01半导体器分立件综合
【到馆阅览须知】
国家标准馆位于北京市海淀区知春路4号，可接待到馆读者，为读者提供标准文献检索、文献阅览、信息咨询、信息跟踪、信息推送等服务。
1. 本馆向在国家数字标准馆网络平台上完成实名注册和预约的读者开放。
2. 请勿在非开放范围随意走动和从事与国家标准馆所提供服务无关的活动。
3. 请勿携带食品、有色和含糖饮料进入阅览区域。
4. 禁止在馆区内吸烟和使用明火，禁止携带易燃、易爆、有毒等危险品。
5. 请注意仪表着装，衣冠整洁得体，言谈举止文明。
6. 请遵守公共秩序和国家标准馆相关管理规定，服从工作人员管理，自觉维护参观秩序和良好的阅读环境。
开放时间：
每周一至周五8:30-17:00（节假日不开放）
地 址：
北京市海淀区知春路4号
乘车线路：
乘坐地铁10号线、昌平线，在西土城站下车D口出后西行150米即可到达。
服务咨询：
赵老师 电话：010-58811369 邮箱：zhaoping@cnis.ac.cn
刘老师 电话：010-58811368 邮箱：liuyzh@cnis.ac.cn
取消
确认预约到馆
搜索
首页
馆藏资源
舆情信息
标准服务
科研活动
关于我们
️版权归中国标准化研究院所有