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正在批准
20221350-T-339
集成电路 电磁发射测量 第1部分: 通用条件和定义
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Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 1: General conditions and definitions
发布单位或类别：国家标准计划
下达日期： 2022-12-13
正在批准
20213160-T-339
集成电路电磁兼容建模 第2部分：集成电路电磁干扰特性仿真模型 传导发射建模（ICEM-CE）
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EMC IC Modelling -Part 2: Models of integrated circuits for EMI behavioural simulation -Conductedemissions modelling (ICEM-CE)
发布单位或类别：国家标准计划
下达日期： 2021-08-24
现行
GB/T 42968.2-2024
集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法
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Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 2: Measurement of radiated immunity—TEM cell and wideband TEM cell method
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2024-10-26
现行
GB/T 43034.2-2024
集成电路 脉冲抗扰度测量 第2部分: 同步瞬态注入法
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Integrated circuits—Measurement of impulse immunity—Part 2: Synchronous transient injection method
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2024-10-26
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